MC-2000C型涂（鍍）層測厚儀是的結晶,它采用單片機技術，精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、低電壓指示、其性能達到當代同類儀器的水平。

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-09-15
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產品詳情

MC-2000C型涂（鍍）層測厚儀工作原理

MC--2000C型涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應法測量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2000C型涂（鍍）層測厚儀技術

1、測量范圍： 0~5000μm

2、測量誤差：　　<3%±1μm
3、zui小示值：　　1μm
4、顯示方式： 4位液晶數字顯示
5、主要功能：
(1).測量：　單探頭全量程測厚
(2).存儲：　可存入測量數據254個
(3).讀：　　　讀出已存入測量數據
(4).校正：隨機標準試片校正
(5).打印：選配微型打印機
(6).背光：采用的EL自動背光
(7).關機：zui后一次測量后8分鐘左右自動關機
6、電源：　　　 3.6v充電電池
7、功耗：　　　 zui大功耗100mw
8、外形盡寸：　　 50 ＊95 ＊24mm3
9、重量：　　　　　 90g
10、使用環境溫度：　0℃~+40℃相對濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.2mm
12、基體zui小平面： 7mm
13、zui小曲率半徑：凸:1.5mm凹:6mm
14、欠電壓指示：左下角顯示＂欠＂
＊臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。